Mikroskop atomárních sil NT-MDT NTEGRA Probe NanoLaboratory
Popis přístroje:
Mikroskop atomárních sil NTEGRA Probe umožňuje charakterizaci topografie povrchů, měření Kelvinovou sondou nebo fázové zobrazení.
Klíčové vlastnosti:
- Měření v poklepovém režimu
- Měření na vzduchu
- Zobrazování polymerních sférolitů, tenkých filmů, nanočástic, tenkých organických filmů, biomakromolekul, nanovláken
- Vizualizace magnetických a elektrických domén, Kelvinova sonda, fázový kontrast
- Maximální rozsah skenování 100x100x10 µm
Umístění:
Ústav fyziky a materiálového inženýrství
Odpovědná osoba:
Jméno: doc. Ing. Antonín Minařík, Ph.D.
Tel.: 57 603 5086
Mobil: 603 929 933
E-mail: minarik@utb.cz
Kancelář: U15/439