Stolní skenovací elektronový mikroskop Phenom XL
Popis přístroje:
Phenom XL umožňuje detailní zobrazení topografie, materiálového kontrastu a analýzu prvkového složení suchých, pevných látek
Klíčové vlastnosti:
– Zvětšení až 200 000×, maximální rozlišení až 10 nm (závislé od typu vzorku a jeho přípravy)
– Detektor zpětně odražených elektronů (BSD) pro zobrazení materiálového kontrastu
– Detektor sekundárních elektronů (SED) pro detailní zobrazení topografie vzorku
– Možnost energiově disperzní spektroskopie (EDS) pro analýzu prvkového složení
– Maximální velikost vzorku 100 × 100 × 40 mm
– Možnost pokovení vzorků pomocí naprašovačky kovů (směs Au/Pd)
Příslušenství:
- Naprašovačka kovů SC7620 Mini (Quorum Technologies), pokovování směsí zlata a paladia
Umístění:
Ústav fyziky a materiálového inženýrství
Odpovědná osoba:
Jméno: doc. Ing. Antonín Minařík, Ph.D.
Tel.: + 420 576 031 711
Mobil: + 420 603 929 933
E-mail: minarik@utb.cz
Kancelář: 439/U15